任何設(shè)備的使用都離不開設(shè)計思想的定義以及材質(zhì)的發(fā)揮，薄膜測厚儀也是一個很好的例子。作為一個先進(jìn)的測量設(shè)備，薄膜測厚儀的使用獲得了人們的關(guān)注和青睞。上海全耀作為優(yōu)質(zhì)的設(shè)備提供商，下面就和大家一起討論下薄膜測厚儀的各項技術(shù)參數(shù)。

　　在薄膜測厚儀制作過程中對其測量方式做了一次全新的改變，采用特殊的光學(xué)反射原理，在測量的時候不需要對被測量物體進(jìn)行接觸，提升了測量精度的同時也為設(shè)備的使用便捷性打下了良好的基礎(chǔ)。相比一般的測量設(shè)備，薄膜測厚儀已經(jīng)對設(shè)備的精確度到了100nm-200nm，同時薄膜測厚儀采用了適當(dāng)?shù)臏y量輔助措施幫助設(shè)備在測量的過程中保障很好的平穩(wěn)性。一般的精度誤差會控制在0.01nm作用，同時保障測量的數(shù)據(jù)控制在0.01%，保障了我們所需要的數(shù)據(jù)精確性。

　　同時根據(jù)設(shè)備制式的不同，能夠測量的波長范圍也進(jìn)行了重新的劃分，包括NIR參數(shù)控制在900-1700，NIRX控制在900-2200左右，而最長的 NIRX2在1500-2500之間。不僅是設(shè)備的波長范圍得到了提升，同時在設(shè)備制作的過程中使用了先進(jìn)的光譜儀以及檢測器對設(shè)備的測量過程進(jìn)行很好的輔助。

　　光譜儀采用的F4光圈作為使用的原理，超大光圈讓設(shè)備在檢測的時候可以更好的控制相應(yīng)的像素，提升整個設(shè)備的清晰度。不僅是光圈做了大規(guī)模的調(diào)整，同時針對光源設(shè)備的使用也更加的出色，一般在光源的選取上都會采用鹵鎢燈作為基礎(chǔ)材質(zhì)，色溫一般控制在2800左右，同時鹵鎢燈最大的特點就是在于使用壽命長。最后，薄膜測厚儀的反射探頭采用了光導(dǎo)纖維7纖芯作為主導(dǎo)，提升了設(shè)備整體的反應(yīng)速度。

　　總之，在設(shè)備制作的過程中對薄膜測厚儀的各項技術(shù)參數(shù)做了大幅度的提升， 也為設(shè)備的使用性能做了堅實的鋪墊。上海全耀是一家專業(yè)的薄膜測厚儀提供商，有著各種各樣類型的薄膜測厚儀設(shè)備，能夠確保使用的過程中各項性能的發(fā)揮。