膜厚測量儀可以幫助我們實現(xiàn)高效的薄膜厚度測量，可以實現(xiàn)高效的薄膜厚度檢測，幫助我們提高設(shè)備的檢測精度。我們能夠通過該設(shè)備提高薄膜厚度的檢測效果，實現(xiàn)薄膜厚度的檢測效率以及精度。膜厚測量儀在使用中也會因為一些產(chǎn)品原因而無法實現(xiàn)高效的檢測，我們需要解決這些故障問題，提高設(shè)備的測量精度。那么膜厚測量儀在測量中到底會遇到哪些故障呢?下面就由上海全耀的專業(yè)人員來和大家介紹一下吧。

　　(1)被檢測物體的檢測面與底面不平行，膜厚測量儀在檢測的時候容易遇到底面產(chǎn)生散射，導致設(shè)備的探頭無法接受到底波信號，降低了設(shè)備的最終檢測精度。

　　(2)膜厚測量儀檢測的工件如果表面粗糙度過大，將會造成探頭與接觸面耦合效果差，造成設(shè)備無法正常的接受信號，降低設(shè)備的檢測精度。如果被測物體的表面故障過多，容易造成設(shè)備無法接收到回波信號，降低了設(shè)備的檢測性能。對于表面銹蝕，耦合效果極差的在役設(shè)備，我們需要先對設(shè)備的表面故障進行處理，降低產(chǎn)品表面的粗糙度，提高設(shè)備檢測的效率。

　　(3)鑄件的組織不均勻或晶粒粗大也會造成膜厚測量儀檢測精度降低，容易影響到最終的檢測效率。我們可選用頻率較低的粗晶專用探頭來提高設(shè)備的檢測效率。

　　(4)如果設(shè)備的探頭接觸面有一定磨損也容易造成設(shè)備的使用故障，造成精度的降低已經(jīng)遭到損壞的設(shè)備探頭長期使用會使其表面粗糙度增加，導致設(shè)備的靈敏度下降，降低設(shè)備的檢測效率。

　　(5)被測物背面有大量腐蝕坑，這也容易造成被測精度的下降，導致設(shè)備中檢測數(shù)據(jù)無法正常讀出來。如果被測物體中有沉積物，也會造成厚度檢測精度的下降，降低被測物體厚度的檢測精度。用戶應(yīng)該在正式的檢測之前做好被測物體的清洗工作，提高物體的檢測效率和檢測精度。