隨著工業(yè)發(fā)展與科技的進(jìn)步，膜厚測(cè)厚儀逐漸在市場(chǎng)上興起，因?yàn)槠涑叩臏y(cè)量精度和簡(jiǎn)便的測(cè)量過(guò)程，在各行各業(yè)都得到了廣泛的應(yīng)用。不過(guò)膜厚測(cè)厚儀根據(jù)測(cè)量原理和測(cè)量測(cè)量材料的不同，分為了多種型號(hào)，下面我們就對(duì)不同類(lèi)型的膜厚測(cè)量?jī)x做個(gè)分類(lèi)。

　　1.激光測(cè)厚儀。激光測(cè)厚儀與其它膜厚測(cè)量?jī)x分類(lèi)標(biāo)準(zhǔn)是工作原理：運(yùn)用光切法對(duì)各種機(jī)械零件切口的厚度進(jìn)行測(cè)量，不需要與被測(cè)量物體直接接觸即可完成測(cè)量測(cè)量過(guò)程，使用非常方便;并且厚度測(cè)量的精度較高，受到了眾多消費(fèi)者的喜愛(ài)，在社會(huì)中的應(yīng)用范圍也較為廣泛。

　　2.X射線測(cè)厚儀。X射線具有較強(qiáng)的穿透性能，但是在穿透一件物體之后它的強(qiáng)度會(huì)有下降，而X射線測(cè)厚儀正是利用了這個(gè)特性，記錄X射線強(qiáng)度的變化來(lái)判斷物體的厚度 。該種測(cè)厚儀也是非接觸式測(cè)厚儀，但是測(cè)厚的精準(zhǔn)度相較于激光測(cè)厚儀會(huì)有一定程度的下降。X射線測(cè)厚儀可以與計(jì)算機(jī)系統(tǒng)互聯(lián)，將測(cè)得的數(shù)據(jù)傳遞給數(shù)據(jù)庫(kù)，在錫箔加工、金屬冶煉行業(yè)有著很大范圍的應(yīng)用。

　　3.薄膜測(cè)厚儀。由于薄膜和薄片的厚度很低，大多數(shù)的測(cè)厚儀無(wú)法對(duì)它們的厚度進(jìn)行準(zhǔn)確的測(cè)量，而薄膜測(cè)厚儀采用了特有的測(cè)厚方法，專(zhuān)門(mén)用于測(cè)量各種薄膜、薄片的厚度，精度較高，可精確至0.001mm，而且它還具有測(cè)量單位自動(dòng)轉(zhuǎn)化、過(guò)載保護(hù)功能，既方便了使用者測(cè)量又提高了它的安全性能。

　　4.超聲波測(cè)厚儀。超聲波測(cè)厚儀利用了超聲波碰觸物體會(huì)反射的物理特性，對(duì)物體的厚度進(jìn)行測(cè)量。當(dāng)測(cè)厚儀的超聲波發(fā)射端發(fā)射超聲波到達(dá)被測(cè)材料分界點(diǎn)時(shí)，超聲波會(huì)反射回接受探頭，測(cè)厚儀的數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)會(huì)對(duì)超聲波的發(fā)出與接受時(shí)間進(jìn)行精確的計(jì)算，最后測(cè)出物體的厚度。

　　上文中所敘述的內(nèi)容就是對(duì)膜厚測(cè)量?jī)x的分類(lèi)做了一個(gè)基本的介紹，在實(shí)際的測(cè)量作業(yè)過(guò)程中，我們根據(jù)測(cè)量環(huán)境和被測(cè)材料的不同來(lái)選擇相應(yīng)的膜厚測(cè)厚儀。