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接觸式厚度測(cè)量?jī)x和非接觸式厚度測(cè)量?jī)x的特性對(duì)比!
作者:上海全耀儀器設(shè)備有限公司 上傳日期:2015年06月30日 瀏覽次數(shù):
用于厚度檢測(cè)的裝置主要有兩大類:一類是通過把被測(cè)厚度與一個(gè)參考厚度進(jìn)行比較測(cè)得偽,它是屬于接觸式測(cè)量;另一類是利用某些物理量關(guān)系測(cè)得的,屬于非接觸式測(cè)量。
常用的游標(biāo)卡尺只適用于非連續(xù)取樣或進(jìn)行批量質(zhì)量檢測(cè)和標(biāo)定測(cè)量。由于接觸點(diǎn)可能磨損,所以長(zhǎng)期使用會(huì)降低測(cè)量精度。差動(dòng)滾筒式測(cè)量?jī)x可用來進(jìn)行連續(xù)測(cè)量,該儀器使用了兩個(gè)滾筒。一個(gè)滾筒直接與基準(zhǔn)面接觸,稱為參考滾筒,另一個(gè)則與被測(cè)材料相接觸,稱為測(cè)量滾筒。
差動(dòng)放大器的輸出信號(hào)代表了被測(cè)材料的厚度,因?yàn)閮蓚€(gè)線性可變差動(dòng)變壓器(LVDT)的副邊輸出電壓是由于可動(dòng)鐵芯的位移引起的,因此與各自的鐵芯位移成正比。這種測(cè)量?jī)x的可測(cè)厚度范圍為0.02mm到幾厘米,其測(cè)量精度與滾筒的粗糙度有關(guān)。除了雙滾筒外,有的測(cè)量?jī)x器只采用單個(gè)滾筒,這時(shí)的測(cè)量精度與滾筒的精庫(kù)關(guān)系較大。
超聲波式厚度測(cè)量?jī)x主要用于測(cè)量只有單面可接觸的材料的厚度,如壓力容器和儲(chǔ)罐的壁厚。改變超聲波的頻率使壁產(chǎn)生共振,共振頻率可以用來計(jì)算其厚度。這種厚度測(cè)量?jī)x在靜態(tài)條件下可測(cè)厚度的范圍為0.2—200mm,測(cè)量精度較高,但是它一般不能用在運(yùn)動(dòng)材料的厚度檢測(cè),這是因?yàn)榫_的測(cè)量厚度需要將超聲波發(fā)生器晶體與材料的表面直接接觸。
非接觸式厚度測(cè)量?jī)x
材料的某些特性為厚度的間接測(cè)量創(chuàng)造了條件,這種測(cè)量往往是屬于非接觸式測(cè)量。下面介紹較為常用的兩種測(cè)量方法。
(1)電容式厚度測(cè)量?jī)x:它可以用來測(cè)量象膠卷之類的絕緣體的厚度。因?yàn)殡娙莸淖兓c電容器兩板之間的電介質(zhì)的厚度有關(guān),所以只要被測(cè)材料的介電常數(shù)與空氣的介電常數(shù)相差較大,就有可能利用以上原理測(cè)量其厚度。在這種測(cè)量?jī)x中,電容器和被測(cè)材料是整個(gè)諧振電路的一部分。通過標(biāo)定可以讓電路的輸出直接指示材料的厚度。(2)射線式厚度測(cè)量?jī)x:讓x射線或其他放射線穿過被測(cè)材料,測(cè)量出射線的衰減。利用下式可求出材料的厚度。
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