對膜厚測量儀使用過的朋友都知道它的使用方法主要有磁性測厚法、放射測厚法、點解測厚法超聲波測厚法。在使用它的過程中，有的地方是需要注意的，可是有的朋友總是不注意，導(dǎo)致對膜厚測量儀產(chǎn)生了一定的損害。那么，具體來說，它在進行測試的時候，需要注意哪些地方呢?

　　在進行測試的時候有一個地方需要特別注意，那就是標(biāo)準(zhǔn)片集體的金屬磁性與表面的粗糙程度最好是跟試件非常的相似。這樣的好處就是可以讓測量的誤差盡量小。在有的地方是需要特別重視的，有的朋友在使用膜厚測量儀的時候，經(jīng)常忽略垂直，在測試的時候一定要保持側(cè)頭與試樣的表面是垂直的。

　　在測試的過程中，如果不注意基體金屬的臨界高度的話，也非常容易造成測試的誤差。假如測試的時候臨界高度大于這個厚度測量的話肯定就不會受到金屬厚度的影響。所以說在測試的過程中，還是需要注意它的臨界高度的。在測量的時候最好是注意一下它的曲率，曲率有的時候同樣會對測量造成一定的誤差。所以說如果是在彎曲的試件表面進行測量的時候，一定要看看它的彎曲程度。

　　對膜厚測量儀進行深入的了解，你會發(fā)現(xiàn)發(fā)現(xiàn)它的一些物理現(xiàn)象，在物理中我們知道磁場與磁場之間是會產(chǎn)生一定的干擾的。所以說在使用它的時候，你還需要注意，有的設(shè)備會產(chǎn)生磁場，所產(chǎn)生的磁場會對測量的精確度產(chǎn)生一定的影響。所以說在測試之前，最好是先了解一下所測試的設(shè)備是否會產(chǎn)生磁場，以便減小測試的誤差。

　　這就是跟朋友們介紹的使用膜厚測量儀進行測試的時候需要注意的一些地方。當(dāng)然除了上文介紹的這些方法之外，有的地方也是需要注意的，比如說測量的過程中一定要保持壓力的恒定，要不然的話，往往會影響的讀數(shù)的準(zhǔn)確度。讀數(shù)被讀錯，很多人都把這種做法稱為是一種低級的錯誤。