反射式膜厚測量儀可以實現多層薄膜厚度測量，又被稱為光干涉測量儀，不僅對薄膜有著良好的測量效果，同時對厚膜也有著廣范圍的測量作用，在其測量過程中利用紫外線到紅外線波長的變化，對被測物實現穿透式測量，同時在高分辨率傳感器的使用下，對被測物實現厚度上的測量。

　　反射式膜厚測量儀使用特點：

　　1、波長范圍廣，可以實現190納米到1600納米范圍之內的長度測量;

　　2、可對大型樣品實現厚度測試;

　　3、機體整個結構設計簡單，臺式結構非接觸測量，在測量時，直接將被測物放在側頭上便可以實現測量;

　　4、測量精度高，所得數據值直接存在數據庫中，不會出現丟失，和互聯網實現互聯，薄膜厚度數據得到了永久性存儲;

　　反射式膜厚測量儀測量項目：

　　主要被使用化工行業(yè)、醫(yī)學行業(yè)、塑料生產行業(yè)等，因此測量項目主要集中在多層膜厚解析、絕對發(fā)射率測量以及光學常數解析等。

　　反射式膜厚測量儀結構組成：

　　主要由光譜儀、測量用光源、觀測用CCD相機、觀測用光源、對物鏡頭、樣品以及樣品架等等，這些只是大概結構部件，根據測量儀類型的不同，影響到機體內部組成的不同，具體情況具體分析。

　　反射式膜厚測量儀參數介紹：

　　被測物尺寸需要滿足長寬高分別是200毫米、200毫米、7毫米，在測量膜厚范圍上需要滿足在1納米到1毫米之間，測量波長范圍一般情況下在190納米到1600納米之間，這一點以上也有介紹過，機體測量中可測量的膜數需要控制在不超過50層，另外在傳感器使用上最好是使用電子冷卻型光電二極管，這種光電二極管精準度高，體積小，不易壞，使用壽命時間長。

　　反射式膜厚測量儀因為波長范圍廣，測量精準度高，所以被廣泛使用在各行各業(yè)，比如在強電解質、樹脂膜以及光學膜等行業(yè)的使用，隨著社會的快速發(fā)展，相信這種反射式測量儀未來的使用性能將越來越全面。