沒接觸過膜厚測量儀的朋友，對它肯定是陌生的。事實上，在一些化學或者生物的實驗中，我們就已經(jīng)看到過這些設(shè)備的影子了。這種設(shè)備是用來進行測量的，在使用的過程中，每個人關(guān)注的地方是不一樣的。對于這種設(shè)備，你對它了解有多少呢?它有一些什么樣的分類，有一些什么樣的特點呢?我們一起來學習一下它的三大分類及其相應的特點。

　　激光測厚儀。顧名思義，這種膜厚測量儀，它是跟激光有關(guān)的。這種設(shè)備是根據(jù)一些反射原理來控制線接的，它的工作原理采用的是背部一些獨特的光切信號來進行的。這種設(shè)備有一個比較顯著的特點就是它可以跟數(shù)字信號進行一定的結(jié)合，然后再與計算機進行相應的連接。測試到偏差值就是測試的結(jié)果，這個測試結(jié)果會被輸入到一些工業(yè)設(shè)備之中。

　　X射線測厚儀。X射線是在近代科技社會中，一些物理學家發(fā)現(xiàn)的一種射線。這種膜厚測量儀與激光測厚儀不同是，它是利用內(nèi)部的X射線進行測量的。一些學過物理的朋友就明白，X射線跟一些物體厚度的變化是有著很大的關(guān)系的。既然這樣的話，設(shè)備在實際運行的過程中，就可以根據(jù)設(shè)備的厚度來進行一定的測量。所以說這種設(shè)備的優(yōu)勢就是在測量的過程中采用的非接觸式的測量。這種設(shè)備還會與PLC控制技術(shù)及其計算機有一定的關(guān)聯(lián)。

　　涂層測厚儀。這種類型的膜厚測量儀，它采用的原理是電磁感應，電磁感應的方式可以測量涂層的厚度。在這種設(shè)備的一個部件的表面會有一個比較特殊的探頭，在設(shè)備測量的過程中，探頭與磁性材料之間產(chǎn)生距離的變化，就可以根據(jù)這個變化值進行一定的測量，可以非常精確地測試涂層的厚度。

　　這就是跟朋友們介紹分享的膜厚測量儀的三大分類及其相應的特點。激光測厚儀，它是一種與激光有關(guān)的設(shè)備;X射線測厚儀，它是一種與X射線有關(guān)的設(shè)備;涂層測厚儀，它是一種與電磁感應有關(guān)是設(shè)備。