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反射光譜薄膜測厚儀

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MProbe Vis薄膜測厚儀


參考價格:15-20萬

MProbe Vis薄膜測厚儀大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且穩(wěn)定的被測量。比如:氧化物,氮化物,光刻膠,高分子聚合物,半導(dǎo)體(硅,單晶硅,多晶硅),半導(dǎo)體化合物(AlGaAs, InGaAs,CdTe, CIGS),硬涂層(碳化硅,類金剛石炭),聚合物涂層(聚對二甲苯,聚甲基丙烯酸甲酯,聚酰胺)

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大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且穩(wěn)定的被MProbe Vis測厚儀測量。比如:氧化物,氮化物,光刻膠,高分子聚合物,半導(dǎo)體(硅,單晶硅,多晶硅),半導(dǎo)體化合物(AlGaAs, InGaAs,CdTe, CIGS),硬涂層(碳化硅,類金剛石炭),聚合物涂層(聚對二甲苯,聚甲基丙烯酸甲酯,聚酰胺)。


測量范圍: 15 nm -50um

波長范圍: 400 nm -1100 nm


MProbe Vis薄膜測厚儀適用于實時在線測量,多層測量,非均勻涂層, 軟件包含大量材料庫(超過500材料),新材料可以很容易的添加,支持多重算法:Cauchy, Tauc-Lorentz, Cody-Lorentz, EMA等。


測量指標(biāo):薄膜厚度,光學(xué)常數(shù)

界面友好強(qiáng)大: 一鍵式測量和分析。

MProbe Vis薄膜測厚儀實用的工具:曲線擬合和靈敏度分析,背景和變形校正,連接層和材料,多樣品測量,動態(tài)測量和產(chǎn)線批量處理。

 MProbe Vis薄膜測厚儀

(MProble NIR薄膜測厚儀系統(tǒng)示)


性能參數(shù):

     精度 <0.01nm or 0.01%
    準(zhǔn)確度 <0.2% or 1 nm
    穩(wěn)定性 <0.02nm or 0.03%
    光斑直徑 標(biāo)準(zhǔn)3mm, 可以小至3um
    樣品大小 大于1 mm


 案例1,300nm二氧化硅薄膜的測量:

MProbe Vis薄膜測厚儀


硅晶圓反射率,測量時間10ms:

MProbe Vis薄膜測厚儀


案例2,測量500nm氮化鋁,測量參數(shù):厚度和表面粗糙度

MProbe Vis薄膜測厚儀


技術(shù)參數(shù):

   測量范圍 15nm-50um
   精度 <0.01nm or 0.01%
   準(zhǔn)確度 <0.2% or 1 nm
   穩(wěn)定性 <0.02nm or 0.03%
   波長范圍 400-1100nm
   光譜儀和檢測器 F4光譜儀,3600像素CCD檢測器,16位深
   光譜分辨率 小于2nm(標(biāo)準(zhǔn)),可選1nm
   光源 5W鹵鎢燈,色溫2800,壽命:10000小時
   反射探頭 光導(dǎo)光纖(7個纖芯),纖芯400um


可選硬件模塊
  FLVis 消色差聚焦透鏡,工作距離:35mm,光斑直徑:小于0.5mm
  FDHolder 面向下面樣品適配器,用于透明樣品
  TO 透射率測量模塊
  TO Switch 2個通道轉(zhuǎn)換器,用于反射率和透射率測量
  20W 20W鹵鎢燈(色溫3100,壽命2000小時)
  TR 5V TTL外觸發(fā)模塊,1個外部in觸發(fā),啟動測量,6路out觸發(fā)
  LP500 長通濾光片,過濾500nm以下光譜,用于光刻膠,其他波長可選


可選軟件模塊
MOD 遠(yuǎn)程控制(TCP),基于Modbus協(xié)議
CM 動態(tài)測量模塊,設(shè)定時間間隔,用于在線測量
 


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    MAI顯微鏡適配器,可與任何一臺正置顯微聯(lián)用,將MProble系列測厚儀加到顯微鏡上,用于微小樣品的厚度測量,包含一個200萬像素CCD,可對測量區(qū)域進(jìn)行成像。 尺寸 100mm x 40mm x 30mm 重量 0.5kg 顯微鏡接口 C型接口 相機(jī) 200萬像素 通訊 USB連接 電源 USB供電 (MAI顯微鏡適配器示意圖) (測量區(qū)域拍照,十字線中點為測量點) 我們樂意為您進(jìn)行免費樣品測量,歡迎來電咨詢。 美國Semiconsoft中國總代理 上海全耀儀器設(shè)備有限公司 全國咨詢熱線:400-992-5592 Email:info@filmgauge.com.cn 上海全耀代理產(chǎn)品:膜厚測量儀,薄膜測試儀,膜厚儀,厚度測量儀以及MProbe MSP顯微薄膜測試儀等,歡迎廣大用戶前來訂購。