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上海全耀儀器設(shè)備有限公司專注于薄膜厚度測(cè)量市場(chǎng)，是美國(guó)頂尖的光學(xué)薄膜厚度測(cè)量解決方案的供應(yīng)商---Semiconsoft公司在中國(guó)的總代理。
美國(guó)semisonsoft公司的薄膜測(cè)厚儀測(cè)量厚度可以低至1nm，厚至1mm，埃級(jí)分辨率，非接觸式無(wú)損快速測(cè)量。廣泛的應(yīng)用與各種生產(chǎn)或研究中，比如測(cè)量薄膜太陽(yáng)能電池的CIGS層，觸摸屏中的ITO層等。
大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且穩(wěn)定的被測(cè)量。
比如：
半導(dǎo)體（硅，單晶硅，多晶硅）
半導(dǎo)體化合物（AlGaAs, InGaAs，CdTe, CIGS）
微電子機(jī)械（MEMS）
氧化物/氮化物
光刻膠
硬涂層（碳化硅，類金剛石炭）
聚合物涂層（聚對(duì)二甲苯，聚甲基丙烯酸甲酯，聚酰胺）
高分子聚合物
我們非常樂(lè)意與您討論有光薄膜的任何問(wèn)題，希望我們多年的薄膜厚度測(cè)量經(jīng)驗(yàn)?zāi)芙鉀Q您所遇到的薄膜厚度測(cè)量問(wèn)題。
最具性價(jià)比的薄膜測(cè)厚儀、膜厚測(cè)量?jī)x-------敬請(qǐng)聯(lián)系：400-992-5592
